TLV3501比较出的方波边沿出现一团抖动

1. 能否上传你的原理图以及示波器上抓到的波形？

2. 请告知输出级负载特性

3. 曾经遇到一个类似的情况，后来证明是电源所致，因此检查是否有合适的电源设计与足够的褪藕电容就近放置

有靠近电源的10u钽电容旁路，和靠近芯片的去耦非极性0.1u电容

你好，多谢解答，我已将比较器波形上传，帮忙分析下

输出直接示波器检测，没接负载

1. 关于电源的处理

 - 比较器翻转时的电流消耗较大，需要特别注意褪藕电容以及地线设计

2. 为比较器增加迟滞窗口，数据手册P7

3. 输出级串联1~2k电阻

4. 前级输入的信号幅值范围是0~5V ? 比较器的供电？

5. 对比输入以及输出信号波形，如果输入波形不光滑会在门限附近导致多次翻转（TLV3501是高速比较器）；

 输入输入信号SR较之翻转时间小很多，该情况更容易发生，而且有可能使比较器进入短暂的线性区

电路是接成数据手册P7页的迟滞比较器方式，有靠近电源的10u钽电容旁路，和靠近芯片的去耦非极性0.1u电容。按照数据手册，单电源供电时输入信号幅值范围为0-0.5Vpp~Vs+0.5V。测量时单电源+5V供电，信号源直接给信号，输出直接接示波器，无负载。输入上MHz正弦波时，波形良好，只是几百KHz以下才在边沿出现这样的一团东西。另外，用另一高速比较器TL3116测试，低频<100KHz时比较波形更挫，整个高电平都是一团这样的振荡。最近在做宽幅值范围，宽带（过10M）信号整形，试了各种比较器，除上述两个高速COMP还试过TL714，也不理想。输入信号幅度比较大才能比较出方波，调试时前级都加了运放放大。难道非得拔高低频分开用两路去做这个整形，还是说我做的板子(做了了好几块测都这样)有问题，导致这些高速比较器低频时工作不正常？整形能不能做到信号幅值超过门限几个mV就能触发翻转？

 谢谢你的解答，继续讨教……

"输入信号SR较之翻转时间小很多，该情况更容易发生"？SR=Slew Rate?

补充：测量时由函数发生器输入加2.5Vdc直流偏置的正弦波

1. 对于高速器件，电容的位置甚至比其容量更重要；因此最好提供你的PCB设计图一起看看；

 器件在电平翻转时有可能产生较高的感应电平从而影响输出；

 一个建议就是改善电容位置与容量，可以参照下图或者手册中的位置以及电容容量

改善地线设计

2. 高速比较器的翻转时间很短，这就要求输入信号也有对应的快速边沿变化，否则比较器会在门限附近跟随输入变化

 从而导致输出的边沿变得非常毛糙；

 如果输入信号频率为50KHz已经确定，可以换用较低速度的器件，如TLV3702等

 你可以拆除外置迟滞电路，测试看看，这样会使得毛刺减少，因为超过门限越多翻转越快毛刺越少；

补充一点

- 最好提供输入信号与输出信号同时监测的波形

我遇到了一个和你类似的问题，除此之外，我发现，手册上有一个对50MHz，峰峰值为20mV的响应波形图，但是我实测的时候，根本达不到50MHz，到4M左右，就基本上不是方波了，请问，你实测的时候，最大能达到多少？能不能指导我一下？

楼主你好！

这是一个非常典型的问题：

1、高速比较器的slew rate非常高，放大倍数非常大，这意味着信号在接近比较值附近的时候，微小的噪声和抖动都可能被放大。所以，高速比较器在低频的时候往往容易在翻转的时候出现振荡的现象；这可以解释为什么在低频的时候，TLV3501、TL3116 容易出现振荡，而LMV3393这种低速的通用比较器却工作的很好的现象。

2、除了楼上各位提供的改善电源之外，可以考虑的解决方法：

       a）在比较器前加入滤波器；因为噪声的频率成分比信号高；如果同时需要覆盖高低频段，那么做则可以在高频时旁路这个滤波器；

       b）增加迟滞比较器的阈值；

TI工程师

     你好 ，你说的  “”如果 同时需要覆盖高低频段，可以在高频时旁路 滤波器“”， 这句话怎样理解， 能提供一个电路图来说明吗 ？

我想请教下一个问题：我了解到 输出端串联一个小电阻 也能消抖，请问 你刚才说输出级串联1-2K 的电阻 是根据什么情况去设定的呢 ？

你好，对于过零比较器应该都会存在零点振荡的问题，对于输入信号不平滑的波形，是否需要在输入级加滤波？

亲；对于不平滑输入，建议适度滤波和适度加正反馈构成窗口比较。