SN74BCT760MDWREP

• 受控基线
  • 一个组装/测试现场，一个制造现场
• -55°C至125°C的扩展温度性能
• 增强的制造资源减少（DMS）支持
• 增强的产品更改通知
• 资格谱系（1）
• BCT244的开放收集器版本
• 开路集电极输出驱动总线或缓冲存储器地址寄存器
• 根据MIL-STD-883C方法3015，ESD保护超过2000 V
• 可提供塑料小轮廓（DW）包装

（1） 根据JEDEC和行业标准进行部件鉴定，以确保在延长的温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力试验（HAST）或偏置85/85、温度循环、高压釜或无偏置HAST、电迁移、键合金属间化合物寿命和模具化合物寿命。此类鉴定测试不应被视为证明使用超出规定性能和环境限制的部件是合理的。