（1） 根据JEDEC和行业标准进行部件鉴定，以确保在延长的温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力试验（HAST）或偏置85/85、温度循环、高压釜或无偏置HAST、电迁移、键合金属间化合物寿命和模具化合物寿命。此类鉴定测试不应被视为证明该部件的使用超出了规定的性能和环境限制。所有其他商标均为其各自所有者的财产。
描述TLE2027包含创新的电路设计专业知识和高质量的过程控制技术，以产生以前在单运算放大器中无法获得的交流性能和直流精度水平。这些设备采用TI最先进的Excalibur工艺制造，可升级到使用较低精度设备的系统。
在直流精度领域，TLE2027提供100μV的最大偏置电压、131 dB（典型值）的共模抑制比、144 dB（典型）的电源电压抑制比和45 V/μV（典型值。
TLE2027的交流性能通过15 MHz的典型单位增益带宽规格、55°的相位裕度和3.3 nV/Hz的噪声电压规格（频率分别为10 Hz和1 kHz）得以突出。
TLE2027有多种封装，包括用于高密度系统应用的行业标准8针小外形版本。该设备的特点是在-55°C至125°C的整个军事温度范围内运行。
特色
- 受控基线
- 一个组装/测试现场，一个制造现场
- –55°C至125°C的扩展温度性能
- 增强的制造资源减少（DMS）支持
- 增强的产品更改通知
- 资格谱系（1）
- DC精度和AC性能的杰出组合：
- 统一增益带宽。13 MHz典型值
- Vn。3.3 nV/，19 V/μV典型值，RL=600
- 提供标准引脚小轮廓封装
- 输出饱和恢复电路
- 宏观模型和统计信息
（1） 根据JEDEC和行业标准进行部件鉴定，以确保在延长的温度范围内可靠运行。这包括但不限于高加速应力试验（HAST）或偏置85/85、温度循环、高压釜或无偏置HAST、电迁移、键合金属间化合物寿命和模具化合物寿命。此类鉴定测试不应被视为证明该部件的使用超出了规定的性能和环境限制。所有其他商标均为其各自所有者的财产。
描述TLE2027包含创新的电路设计专业知识和高质量的过程控制技术，以产生以前在单运算放大器中无法获得的交流性能和直流精度水平。这些设备采用TI最先进的Excalibur工艺制造，可升级到使用较低精度设备的系统。
在直流精度领域，TLE2027提供100μV的最大偏置电压、131 dB（典型值）的共模抑制比、144 dB（典型）的电源电压抑制比和45 V/μV（典型值。
TLE2027的交流性能通过15 MHz的典型单位增益带宽规格、55°的相位裕度和3.3 nV/Hz的噪声电压规格（频率分别为10 Hz和1 kHz）得以突出。
TLE2027有多种封装，包括用于高密度系统应用的行业标准8针小外形版本。该设备的特点是在-55°C至125°C的整个军事温度范围内运行。
